Rasterelektronenmikroskopie (REM)

Das Raster-Elektronenmikroskop (REM, oder SEM vom engl. scanning electron microscope) eignet sich zur schnellen mikro-morphologischen und analytischen Untersuchung von Oberflächen. Die maximale Beschleunigungsspannung liegt bei 30kV womit sehr detailierte und scharfe Aufnahmen ermöglicht werden.

 

 

 

Geräte

 

  • Jeol JSM-IT200

 

Probenanforderung

 

  • vakuumstabil
  • gut elektrisch leitend
  • poliert oder unpoliert (eine vorherige Präparation ist in unseren Räumlichkeiten möglich)

 

Ansprechpartner:

 

  • Herr T. Gerhardt oder Frau M. Hofer
  • Email: analytik@gnf-berlin.de